置富科技閃存可靠性分析與測試技術研討會完美落幕

3月16日，中國計算機行業(yè)協(xié)會信息存儲與安全專業(yè)委員會與置富科技聯(lián)合舉辦的“2023閃存可靠性分析與測試技術研討會”在深圳觀瀾湖度假酒店成功舉辦。本次研討會圍繞著閃存可靠性研

究、閃存失效分析、閃存存儲體系發(fā)展趨勢、國內外閃存標準現(xiàn)狀分析以及閃存測試方法等熱點話題展開，匯集120余家從事閃存存儲領域的產、學、研、用、測等企業(yè)和機構共200余觀眾，就閃存可靠性分析和測試技術進行交流探討。

陽主任在會議中主要從閃存產業(yè)發(fā)展背景、產業(yè)面臨的主要問題以及如何規(guī)范化發(fā)展這三個方面作專題報告，并針對閃存安全隱患多，數據風險大，可靠性低，數據風險大，規(guī)范性不明確等突出問題提出：建立和健全閃存產業(yè)的標準化體系，加強閃存產品的權威檢測和認證，推進產品質量風險監(jiān)管的解決方案，以保證產品品質。

劉先生提出：“為打造高質量閃存產品品牌和行業(yè)生態(tài)，引領和促進行業(yè)應用，需要結合行業(yè)迫切需求，有計劃的制定涵蓋產品標準、基礎標準及應用標準等類型的系列方法規(guī)范，為閃存行業(yè)的相關產品研發(fā)、應用選型和認證測評服務等提供依據和參考”。

王部長表示：“存儲是數據基礎設施的重要組成，是數字經濟高質量發(fā)展的基石，存儲、計算、網絡三者需要協(xié)同發(fā)展，只有數據存的好、算得快才能存的穩(wěn)”。

陳教授從3D NAND閃存的最新進展、3D NAND的結構特點出發(fā)，分析了閃存可靠性問題，提出目前3D NAND的結構以及工藝等特點決定了閃存的可靠性特性。

裴先生主要從SSD角度分析NAND測試面臨的挑戰(zhàn)，以及NAND的特性影響了數據可靠性等問題，并為優(yōu)化測試流程，挖掘NAND潛力，打造高可靠SSD提供了解決方案。

王博士通過對三維NAND閃存數據保持問題的解讀，重點闡述高效重讀糾錯算法和互信息輔助譯碼優(yōu)化算法，可以有效提升三維NAND存儲系統(tǒng)在高損耗及長待機等極端條件下的讀寫性能及糾錯能力。

熊女士從閃存測試重要性和必要性方面，向與會嘉賓分享了置富科技智能閃存測試平臺的主要功能和原理，在基于動態(tài)預測模型和閃存智能預測技術上，以及如何兼顧準確和效率，有效得實現(xiàn)NAND 篩選分級和應用指導。

方教授通過對錯誤類型、原始誤碼率、糾錯頻率、不同類型(MLC, eMLC, SLC驅動器)的可靠性比較，闡明了在大規(guī)模部署SSD的情況下，上層的應用軟件需要考慮SSD存儲的容錯機制，防止數據在SSD中丟失，也由于SSD故障模型的變化，上層軟件的容錯機制需要做出調整，適應SSD局部故障的問題。

羅先生從數據中心基礎設施演進趨勢和企業(yè)級SSD發(fā)展現(xiàn)狀及問題，綜合闡述了存儲軟硬結合潛在的重要性，希望行業(yè)伙伴通過合作實踐，共同打造良好的行業(yè)生態(tài)。

韓教授從3D器件特性測試、智能信道檢測技術研究、智能信道估計技術研究三個方面介紹了深度學習輔助的3D閃存信道檢測與估計技術研究的重要性和優(yōu)勢特點。

吳博士表示：“存儲是信息的基石，存儲需求無處不在，從遠古結繩記事，到當今閃存技術，再到未來DNA存儲 ，存儲技術一直是人類進步的階梯。”

田先生表示在目前國際形勢下，在高性能運算微系統(tǒng)中，chiplet和先進工藝可以較大程度支持我國經濟發(fā)展對未來對算力的需求，并結合chiplet的特點，形成統(tǒng)一的接口、IP、布局、2.5D/3D工藝標準和測試標準。